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表面物性計測グループ

物質の物性や新規材料の機能の多くは、多様な環境場下において、表界面もしくは表面近傍において発現されます。また、材料創製においては、超高真空やガス雰囲気場、分子線照射場、プラズマや光照射場などの環境場が用いられ、ナノ構造の創製、薄膜の成長、酸化と還元、エッチングなどの諸過程は表界面から表面近傍層において反応が進行します。このように材料の諸特性のキーとなる表面とその近傍層を根源的に理解するための極限計測技術が必要とされています。当グループでは、表界面における構造、状態、物性、機能、反応などを根源的に理解するための極限的な表面計測法の開発を進めています。低次元ナノ構造体の構造と機能を明らかにするために、極限物理場と組み合わせた表面敏感多機能ナノプローブ計測法を開発しています。 表面スピン状態の解明や状態制御分子されたと表面との反応解析のために、スピン偏極準安定ヘリウムビームや配向分子線技術の開発を進めています。さらに、表面・表層における電子輸送過程や格子振動との相互作用などの基礎的な物性を明らかにするために、フェムト秒の時間分解能を有する超高速現象計測技術の開発を進めています。

専門分野・研究対象

表面の構造、物性、機能の先端計測技術の開発と物質・材料への応用展開

・制御された極限場における原子分解能プローブ顕微鏡法の開発と応用
・スピン偏極準安定ヘリウムビームによる最表面スピン状態計測法の開発と応用
・状態と配向を制御した分子線の創製技術の開発と表面反応ダイナミクスへの応用
・表面表層における超高速現象のフェムト秒時間分解計測技術の開発と応用
・機能発現環境におけるオペランド表面ナノ計測技術の開発とグリーンデバイス・材料への応用


国立研究開発法人物質・材料研究機構
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