4D-STEMセミナー

~新たなSTEM像観察を実現する最新検出、解析手法の最前線~

開催日: 2017.11.20 近日開催


日頃はNIMS電子顕微鏡ステーションをご利用いただきありがとうございます。
この度、下記の日程で「4D-STEMセミナー ~新たなSTEM像観察を実現する最新検出、解析手法の最前線~」を開催することになりました。
ご興味のある方は是非ご参加ください。

Thank you for using the facility of the NIMS TEM Station.
We will hold the 4D-STEM seminar as below.(Language: Japanese)
We understand all of you are very busy but we would appreciate it if you could attend.

会場 物質・材料研究機構 千現地区 第1会議室
開催日: 時間 2017.11.20, 10:00~17:10 (受付10:00~)
参加料 無料 (意見交換会 : 1,500円) ※参加には事前登録が必要になります。
ラボツアー
物質・材料研究機構千現地区 JEM-ARM200F (定員最大30名)
※定員の30名をこえた場合、抽選となりますのでご了承ください。
 残念ながら抽選に漏れた方には、11月10日までにメールでお知らせいたします
参加申し込み 
下記フォームより登録↓
https://ssl.form-mailer.jp/fms/12356394537449
※インターネットによる事前登録は11月16日(木)までとなります。
   事前申し込みのない方の参加申し込みはセミナー当日会場の受付で行いますので、直接会場までお越し下さい。 
主催 NIMS微細構造解析PF、NIMS電子顕微鏡ステーション
お問い合わせ
物質・材料研究機構 電子顕微鏡ステーション事務局
Tel: 029-859-2150
E-Mail: tem=nims.go.jp([ = ] を [ @ ] にしてください)

プログラム (敬称略)  ※講義は日本語で行います。

10:30~11:15 物質・材料研究機構 木本 浩司
 原子コラム分解能を有する4D-STEM : 原理実証から材料応用へ
 
11:15~12:00 東北大学 津田 健治
 STEM-CBED法による強誘電体の局所構造解析
 
12:00~13:00 昼休み
 
13:00~13:45 東京大学 柴田 直哉
 高速分割型検出器を用いたDPC STEM法の現状と展望
 
13:45~14:20 日本電子株式会社 佐川 隆亮
 ピクセル型STEM検出器4DCanvasの開発とその応用
 
14:20~14:55 Gatan 伊野家 浩司
 Gatan社製TEM用カメラを使用した高速4D-STEMシステム、STEMx
 
14:55~15:10 休憩
 
15:10~16:00 ラボツアー
 
16:00~16:35 Thermo Fisher Scientific Alex Bright
 EMPAD:  An Ultra High Dynamic Range Pixelated Array Detector for
 Diffraction Imaging and 4D-STEM (日本語講演)
 
16:35~17:10 東レリサーチセンター 久留島 康輔
 多分割検出器およびプリセッション電子回折を用いた評価事例
 
17:30~19:00 意見交換会 於NIMS食堂


4D-STEMセミナーチラシ

4D-STEMセミナーチラシ

4D-STEMセミナーチラシ

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国立研究開発法人物質・材料研究機構
〒305-0047 茨城県つくば市千現1-2-1
TEL.029-859-2000 (代表)
FAX.029-859-2029